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Autor/inn/enund weitere; Hambleton, Ronald K.
TitelDevelopments in Latent Trait Theory: Models, Technical Issues, and Applications.
QuelleIn: Review of Educational Research, 48 (1978) 4, S.467-510Infoseite zur ZeitschriftVerfügbarkeit 
Spracheenglisch
Dokumenttypgedruckt; Zeitschriftenaufsatz
SchlagwörterAbility; Bayesian Statistics; Goodness of Fit; Item Analysis; Latent Trait Theory; Mathematical Models; Maximum Likelihood Statistics; Predictive Measurement; Probability; Scores; State of the Art Reviews; Test Construction
AbstractTopics concerning latent trait theory are addressed: (1) dimensionality of latent space, local independence, and item characteristic curves; (2) models--equations, parameter estimation, testing assumptions, and goodness of fit, (3) applications test developments, item bias, tailored testing and equating; and (4) advantages over classical approaches to solving measurement problems. (CP)
Erfasst vonERIC (Education Resources Information Center), Washington, DC
Update2004/1/01
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