Lernverlaufsdiagnostik - Konzept, Schwierigkeiten und Möglichkeiten.

Autor/in	Klauer, Karl J.
Titel	Lernverlaufsdiagnostik - Konzept, Schwierigkeiten und Möglichkeiten. Paralleltitel: Diagnosing the Course of Learning - Concept, Difficulties and Chances.
Quelle	In: Empirische Sonderpädagogik, 3 (2011) 3, S. 207-224Infoseite zur Zeitschrift PDF als Volltext kostenfreie Datei Link als defekt meldenVerfügbarkeit
Sprache	deutsch
Dokumenttyp	online; gedruckt; Zeitschriftenaufsatz
ISSN	1869-4845; 1869-4934
URN	urn:nbn:de:0111-opus-93240
Schlagwörter	Kompetenzmessung; Diagnostisches Verfahren; Itemanalyse; Testdiagnostik; Grundschule; Mathematik; Itemanalyse; Grundschule; Lehrziel; Mathematik
Abstract	Ähnlich wie bei der curriculumbasierten Messung (CBM) werden bei der Lernverlaufsdiagnostik über einen längeren Zeitraum hinweg regelmäßig Tests gegeben, die stets ein und dieselbe Kompetenz messen sollen und dann erlauben, den Lernverlauf abzubilden. Solche Tests müssen immer neu sein, jedes Mal aber dasselbe messen und stets gleich schwierig sein, was unerwartet problematisch ist. Darüber hinaus sollen sie in der Lage sein, Änderungen der Kompetenz der Probanden sensibel zu diagnostizieren. Klassisch konstruierte Tests dürften für die Lernverlaufsdiagnostik schwerlich in Frage kommen können. In diesem Beitrag wird ein Lösungsvorschlag für die meisten der Probleme offeriert. Der Vorschlag beruht auf der Grundlage lehrzielorientierter Tests und setzt auf Itemsampling in Verbindung mit dem binomialen Testmodell. Abschließend wird ein auf diese Weise konstruiertes Verfahren zur Lernverlaufsdiagnostik im Bereich Mathematik Grundschule vorgestellt, das demnächst verfügbar sein wird. (DIPF/Orig.). To diagnose the course of learning during a longer period of time as it is similarly practiced in curriculum-based measurement (CBM) one has to use tests which always are equally difficult and every time measure the same competence. Until today it is not clear how to construct a greater number of tests of equal difficulty und validity. Moreover, it is not clear which test theory is suitable for such tests since classical test theory turns out to be problematic with respect to such tests. Finally, suitable tests should be sensitive even to minor changes of competence. In this article a solution is offered based upon criterion-referenced tests, item sampling and the binomial test model. Finally, a forthcoming computer-based test is described which will overcome most of the problems and which can be used to measure the course of learning of mathematics with children of elementary school. (DIPF/Orig.).
Erfasst von	DIPF \| Leibniz-Institut für Bildungsforschung und Bildungsinformation, Frankfurt am Main
Update	2015/1