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Autor/inn/enZanella, F. P.; Magalhaes, D. V.; Oliveira, M. M.; Bianchi, R. F.; Misoguti, L.; Mendonca, C. R.
TitelFrustrated Total Internal Reflection: A Simple Application and Demonstration.
QuelleIn: American Journal of Physics, 71 (2003) 5, S.494-96Verfügbarkeit 
Spracheenglisch
Dokumenttypgedruckt; Zeitschriftenaufsatz
ISSN0002-9505
SchlagwörterHigher Education; Light; Optics; Physics; Science Activities; Science Instruction
AbstractDescribes the total internal reflection process that occurs when the internal angle of incidence is equal to or greater than the critical angle. Presents a demonstration of the effect of frustrated total internal reflection (FTIR). (YDS)
Erfasst vonERIC (Education Resources Information Center), Washington, DC
Update2004/1/01
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