Working model of an atomic force microscope.

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Autor/inn/en	Bonson, K.; Headrick, R. L.; Hammond, D.; Hamblin, M.
Titel	Working model of an atomic force microscope.
Quelle	In: American journal of physics, 79 (2011) 2, S. 189-192 PDF als Volltext Link als defekt meldenVerfügbarkeit
Sprache	englisch
Dokumenttyp	online; gedruckt; Zeitschriftenaufsatz
ISSN	0002-9505; 1943-2909
DOI	10.1119/1.3531958
Schlagwörter	Physik; Physikunterricht; Rasterkraftmikroskopie; Rasterkraftmikroskopie; Physik; Physikunterricht; Modellexperiment
Abstract	To explain the principles of an atomic force microscope (AFM) at the level of introductory physics, we have created an inexpensive model of an AFM using a modified phonograph stylus in place of the AFM cantilever and tip. The sample is positioned under the stylus using a micrometer stage. A 10 mW laser diode is used to produce a beam, which reflects off a very small mirror glued to the end of the stylus. No electronic detection is used, and students measure the deflection of the tip directly from the movement of the laser beam on graph paper. The laser beam is deflected roughly 1 cm for each 10 µm of stylus deflection, making it easy to collect data. © 2011 American Association of Physics Teachers.
Erfasst von	Arbeitsgruppe Didaktik der Physik, Universität Osnabrück
Update	2011/2

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