Literaturnachweis - Detailanzeige
Autor/inn/en | Schenk, Wolfgang; Kuerschner, Dierk |
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Titel | Messung der Kapazität von Halbleiterübergängen. |
Quelle | In: Didaktik der Physik ... CD zur Frühjahrstagung des Fachverbandes Didaktik der Physik in der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, Physikertagung 2003 Augsburg (2003) |
Sprache | deutsch |
Dokumenttyp | CD-ROM; Zeitschriftenaufsatz |
ISBN | 3-936427-71-2 |
Schlagwörter | Hochschuldidaktik; Physik; Halbleiterphysik; Praktikum; Diode; Kapazität; Messverfahren; Diode; Halbleiterphysik; Physik; Praktikum; Hochschuldidaktik; Kapazität |
Abstract | In Sperrrichtung betriebene pn-Halbleiterübergänge können im einfachsten Fall bei Vernachlässigung von Leck- und Serienwiderständen durch eine mit der Sperrspannung steuerbare Sperrschichtkapazität dargestellt werden. Zur experimentellen Untersuchung physikalisch begründbarer Zusammenhänge zwischen Sperrspannung und Sperrschicht-kapazitaet unter Berücksichtigung der messtechnischen Möglichkeiten eines physikalischen Anfängerpraktikums wurde bereits in einem früheren Beitrag ein inzwischen mit Erfolg in unserem Praktikum erprobtes passives Resonanzverfahren vorgestellt. Die vorliegende Arbeit beschreibt ein alternatives und mit geringem Aufwand durchführbares aktives Messverfahren auf der Grundlage eines in der Schwingfrequenz spannungsgesteuerten astabilen Multivibrators in Operationsverstärkertechnik. Die Ergebnisse sind gut reproduzierbar und eindeutig physikalisch interpretierbar sowie in guter Übereinstimmung mit den Resultaten der passiven Resonanzmethode. Dieses neue Messverfahren vermittelt den Studenten zusätzliche Kenntnisse sowohl zu Halbleitereigenschaften als auch zur Anwendung monolithisch integrierter Operationsverstärker in der Messtechnik. |
Erfasst von | Arbeitsgruppe Didaktik der Physik, Universität Kassel |
Update | 2005_(CD) |