Suche

Wo soll gesucht werden?
Erweiterte Literatursuche

Ariadne Pfad:

Inhalt

Literaturnachweis - Detailanzeige

 
Autor/inWeingardt, Martin
TitelOhne Fehleroffenheit kein Erfolg.
Warum Fehler anders zu betrachten und zu nutzen sind.
QuelleIn: Schulmagazin 5 - 10, 80 (2012) 1, S. 7-11Infoseite zur ZeitschriftVerfügbarkeit 
BeigabenIllustrationen
Sprachedeutsch
Dokumenttypgedruckt; Zeitschriftenaufsatz
ISSN0947-2746
SchlagwörterFehlleistung; Schulentwicklung; Schulkultur; Sekundarstufe I; Fehler; Fehleranalyse; Lernprozess; Didaktik; Unterrichtskultur; Unterricht; Fehlertoleranz; Deutschland
AbstractEs existieren vier Varianten herkömmlicher Fehlerkultur in der Schule: Fahnden nach Fehlern, Verstecken von Fehlern, fortlaufende Fehlerkorrektur sowie Vermeidung von falschen Wortbildern. Die Wirkungen solcher negativ besetzter Fehlerfokussierung sind Angst und Stress auf Seiten der Schüler. Der Verfasser setzt dieser eine positiv orientierte Fehlerkultur gegenüber, das heißt einen offenen und offensiven Umgang mit Fehlern. Dieser umfasst drei Dimensionen: Fehlertoleranz, Fehlerproduktivität (Nutzung von Fehlern für den Lernprozess) und Fehlerneubeurteilung (Akzeptanz von tolerablen Varianten). Der Verfasser erläutert zudem, dass Schulentwicklung ohne Fehler nicht möglich ist und formuliert abschließend Leitsätze einer explorativ-fehleroffenen Schule.
Erfasst vonDIPF | Leibniz-Institut für Bildungsforschung und Bildungsinformation, Frankfurt am Main (extern)
Update2012/3
Literaturbeschaffung und Bestandsnachweise in Bibliotheken prüfen
 

Standortunabhängige Dienste
Bibliotheken, die die Zeitschrift "Schulmagazin 5 - 10" besitzen:
Link zur Zeitschriftendatenbank (ZDB)

Artikellieferdienst der deutschen Bibliotheken (subito):
Übernahme der Daten in das subito-Bestellformular

Tipps zum Auffinden elektronischer Volltexte im Video-Tutorial

Trefferlisten Einstellungen

Permalink als QR-Code

Permalink als QR-Code

Inhalt auf sozialen Plattformen teilen (nur vorhanden, wenn Javascript eingeschaltet ist)

Teile diese Seite: