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Literaturnachweis - Detailanzeige

AutorBarth, Norbert
TitelKritische Untersuchung diagnostischer Verfahren zur Intelligenzmessung bei Lernbehinderten.
QuelleAus: Beitraege zu Theorie und Praxis in Psychologie und Paedagogik. Frankfurt, Main: Deutsches Inst. fuer internat. paedag. Forschung (1982) S. 115-146    Verfügbarkeit 
BeigabenLiteraturangaben 50
Sprachedeutsch
Dokumenttypgedruckt; Sammelwerksbeitrag
SchlagwörterBinet-Simon-Test; Intelligenztest; Wechsler-Intelligenztest; Lernbehinderung; Sonderschule; Auslese; Kritik
Erfasst vonDeutsches Institut für Internationale Pädagogische Forschung, Frankfurt am Main
Update1998_(CD); 2001/1
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