Literaturnachweis - Detailanzeige
| Autor/inn/en | Goffaux, Cecile; Vigneron, Jean Pol |
|---|---|
| Titel | Neue Methoden der Mikroskopie. Ein Vorschlag zur Behandlung in der Sekundarstufe. |
| Quelle | In: Der mathematische und naturwissenschaftliche Unterricht, 55 (2002) 5, S. 260-267 |
| Beigaben | Abbildungen |
| Sprache | deutsch |
| Dokumenttyp | gedruckt; Zeitschriftenaufsatz |
| ISSN | 0025-5866 |
| Schlagwörter | Sekundarstufe I; Sekundarstufe II; Sekundarbereich; Unterrichtsmaterial; Bild; Bilderzeugung; Naturwissenschaftlicher Unterricht; Rastertunnelmikroskopie; Mikroskopie; Physikunterricht; Piezoelektrizität; Interpretation |
| Abstract | Vor etwa 20 Jahren entwickelten die Wissenschaftler Gerd Binnig und Heinrich Rohrer ein Instrument, mit dessen Hilfe man die Oberfläche von Materialien in atomarer Auflösung betrachten kann. Sie wurden dafür im Jahre 1981 mit dem Nobelpreis für Physik gewürdigt. das scanning tunneling microscope (STM) und - etwas später - das atomic force microscope (AFM) erlaubt uns einen Blick in ein Universum, in dem uns die Atome und Moleküle als etwas Alltägliches begegnen. Wir haben uns nunmehr daran gewöhnt, durch diese atomaren Landschaften zu wandern und z. B. Adsorption von Molekülen an Oberflächen zu beobachten. Diese Zusammenfassung eines beim 27. Kongress der belgischen Lehrer für Naturwissenschaften gehaltenen Vortrags könnte im Rahmen der Physikkurse der Sekundarstufe genutzt werden. Er richtet sich dann vorzugsweise an Schüler der Abschlussklassen, die Physik-Grundkurse belegt haben und die ihr erworbenes Wissen (z. B. durch eine Untersuchung) vertiefen möchten. Manche Teile können auch in anderen Kursen und anderen Klassenstufen Verwendung finden. (Orig.). |
| Erfasst von | Landesinstitut für Schule, Soest |
| Update | 2003_(CD) |
Literaturbeschaffung und Bestandsnachweise in Bibliotheken prüfen
Permalink als QR-Code
Inhalt auf sozialen Plattformen teilen (nur vorhanden, wenn Javascript eingeschaltet ist)
Teile diese Seite:
